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寧波膜厚儀電渦流測量原理
點擊次數(shù):2592 更新時間:2015-05-23 打印本頁面 返回

   寧波膜厚儀采用磁感應原理時,利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通膜厚儀膜厚儀的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀,原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。

寧波膜厚儀電渦流測量原理

  高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場,測頭靠近導體時,就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小,也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度,所以通常稱之為非磁性測頭。

  寧波膜厚儀非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯,例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較,主要區(qū)別是測頭不同,信號的頻率不同,信號的大小、標度關系不同。與磁感應測厚儀一樣,渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um,允許誤差1%,量程10mm的高水平。

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